- 9030900090探针卡/用途:用于测试芯片的良率
- 品牌:BROADCOM型号:BCM2707
- 9030900090探针卡(完检机制品电性时用)
- 品牌加茂川VSC0100-0E
- 9030900001探针卡(探针台用零配件,测试硅片用)
- FMJ322A
- 9030900001探针卡,检测封装前芯片的良率,MM
- S8,-40℃-150℃,100兆赫兹,0.5欧
- 9030900001探针卡,检测封装前芯片的良率,MM
- S5,-40℃-150℃,100兆赫兹,0.8欧
- 9030900090探针卡(完检机测制品电性时用)
- 品牌福博机工VSB0087-4EH
- 9030900090探针卡(完检机测制品电性时用)
- 品牌加茂川VSB0034-4EH
- 9030900090探针卡(完检机测制品电性时用)
- 品牌加茂川VSB0082-5EH
- 9030900090探针卡(完检机测制品电性时用)
- 品牌加茂川VSB0087-4EH
- 9030900090探针卡(完检机测制品电性时用)
- 品牌福博机工VSB0088-2EH
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