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2811220000二氧化硅,SYLOIDED2
100%;GRACE;;粉末状;凝胶法;粒径2.5微米;表面未经处理

2811220000二氧化硅
含量99.5%细度0.6微米,表面未处理,熔融法制得

2811220000二氧化硅,SYLOIDC805
二氧化硅100%;GRACE;;粉末状;凝胶法;4.6-5.4微米;表面

2811220000二氧化硅,SYLOIDED2
100%;GRACE,粉末状;;凝胶法;粒径2.5微米;表面未经处理

9012100000扫描电子显微镜SCANNINGELECTRONMICROSCOPE
用途:用于观察样品芯片的亚微米表面形貌|原理:用聚焦电子束在样品表面逐步扫描成像|品牌:JEOL|型号:JSM-6510LV

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