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材料观测;电子束扫描;JEOL;JSM-

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固体材料表面形貌观察;;品牌:TESCA

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检测TFT面板平面微观形貌,截面分层微观

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进行材料的微观形貌、组织、成分分析。广泛

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清洁度颗粒分析,能谱分析,失效分析等|电

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生物样品形貌分析;;Zeiss;EVOM

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实验室用|高能电子束与样品物质相互作用产

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型号:JSM-6010LA品牌:JEOL

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样品材料观测;电子束扫描;HITACHI

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用途:超高分辨扫描电子显微分析系统主要用

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