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9030900001封装老化测试插座(用于芯片测试)
7XXX-048

9030900001封装老化测试插座(用于芯片测试)
7XXX-112

9030900090测试机测试插座(测试IC用)
测试IC;;IC558-088

9030900090测试机用测试插座(检查IC芯片)
测试芯片IC357

9030900090无线信号隔离测试箱零件/测试插座/TESTSOCKET
无线信号隔离测试箱用;LEADERRANGE;LRT/ITM1002-1845

9030900001封装老化测试插座(用于芯片测试)
611-104

9030900001封装老化测试插座(用于芯片测试)
71X40LEAD

9030900001封装老化测试插座(用于芯片测试)
71X64LEAD

9030900001封装老化测试插座(用于芯片测试)
7XXX-208

9030900090接触针(用于测试插座,铜制)
000-009,031,099,109-116,225,308,50,3,785,900

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